Detalhes do Laboratório

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Detalhes do Laboratório
Nome do Laboratório:Laboratório de Metrologia Elétrica
Acreditação:47
Data da Acreditação:1994-01-05
Última Revisão do Escopo:2025-05-28
Razão Social:Instituto de Pesquisas Tecnológicas do Estado de São Paulo S.A. - IPT
Situação: Ativo
Endereço:Av. Professor Almeida Prado, 532, Cidade Universitária, SÃO PAULO - SP
CEP:05508901
Telefone:(11) 3767-4948
Fax:(11) 3767-4007
Email:fabrigt@ipt.br
Grupo de Serviço de Calibração:ELETRICIDADE E MAGNETISMO
Gerente Técnico:Fabrício Gonçalves Torres
Escopo de Calibração
Serviço Parâmetro CMC
Descrição do Serviço Parâmetro, Faixa e Método Capacidade de Medição e Calibração (CMC)
Bobina para Geração de Campo Magnético AC 1 µT até 50 mT (40 Hz até 1 kHz) 0,18 %*
> 50 mT até 3,4 T (40 Hz até 1 kHz) 0,16 %*
> 3,4 T até 10 T (40 Hz até 1 kHz) 0,18 %*
Método de comparação indireta com medidor padrão e fonte de corrente padrão (ou resistor padrão e multímetro padrão)
Bobina para Geração de Campo Magnético DC 1 µT até 50 mT 0,069 %*
> 50 mT até 3,4 T 14 µT/T*
> 3,4 T até 10 T 0,069 %*
Método de comparação indireta com medidor padrão e fonte de corrente padrão (ou resistor padrão e multímetro padrão)
Medidor de Campo Magnético AC 1 µT até 500 µT (40 Hz até 400 Hz) 0,40 %*
1 µT até 500 µT (>400 Hz até 1 kHz) 0,77 %*
> 500º µT até 20º mT (40º Hz até 600º Hz) 1,0º %*
Método de comparação indireta com bobina padrão
Método de comparação com medidor padrão
Medidor de Campo Magnético DC 1 µT até 50 mT 0,069 %*
> 50 mT até 2,2 T 81 µT/T*
Método de comparação com medidor padrão
Método de comparação indireta com bobina padrão
Medidor de Fluxo Magnético AC 10 µWb até 1 GWb (10 Hz até 1 MHz) 65 µWb/Wb até 0,36 %*
Método de comparação com medidor padrão ou fonte padrão
Medidor de Fluxo Magnético DC 1 µWb até 1 GWb 5,4 µWb/Wb até 437 µWb/Wb*
Método de comparação com medidor padrão
Método de comparação com fonte de intervalo de tempo padrão e medidor de tensão padrão
Capacitor 1 pF a < 1000 pF (100 Hz e 1 kHz) 0,058% + 0,014 pF*
1 nF a < 10 nF (100 Hz e 1 kHz) 0,058% + 0,00015 nF*
10 nF a <100 nF (100 Hz e 1 kHz) 0,058% + 0,0015 nF*
100 nF a < 1 µF (100 Hz e 1 kHz) 0,058% + 0,12 nF* a 0,058% + 0,015 nF*
1 µF a < 10 µF (100 Hz e 1 kHz) 0,058% + 0,00013 µF*
10 µF a < 100 µF (100 Hz e 1 kHz) 0,058% + 0,0015 µF*
100 µF a 101 µF (100 Hz e 1 kHz) 0,058% + 0,015 µF*
101 µF a < 1 mF (100 Hz e 1 kHz) 0,022 %*
1 mF a <110 mF (100 Hz e 1 kHz) 141 µΩ/Ω a 153 µΩ/Ω*
Método de comparação com medidor RLC
Método de comparação indireta com método DC
Década Capacitiva 1 pF a < 1000 pF (100 Hz e 1 kHz) 0,058% + 0,014 pF*
1 nF a < 10 nF (100 Hz e 1 kHz) 0,058% + 0,00015 nF*
10 nF a < 100 nF (100 Hz e 1 kHz) 0,058% + 0,0015 nF*
100 nF a < 1 µF (100 Hz e 1 kHz) 0,058% + 0,12 nF* a 0,058% + 0,015 nF*
1 µF a < 10 µF (100 Hz e 1 kHz) 0,058% + 0,00013 µF*
10 µF a < 100 µF (100 Hz e 1 kHz) 0,058% + 0,0015 µF*
100 µF a < 101 µF (100 Hz e 1 kHz) 0,058% + 0,015 µF*
101 µF a < 1 mF (100 Hz e 1 kHz) 0,022 %*
1 mF a < 110 mF (100 Hz e 1 kHz) 141 µΩ/Ω a 153 µΩ/Ω*
Método de comparação com medidor RLC
Método de comparação indireta com método DC
Medidor de Capacitância 1 pF a < 1000 pF (100 Hz e 1 kHz) 0,058% + 0,014 pF*
1 nF a < 10 nF (100 Hz e 1 kHz) 0,058% + 0,00015 nF*
10 nF a < 100 nF (100 Hz e 1 kHz) 0,058% + 0,0015 nF*
100 nF a <1 µF (100 Hz e 1 kHz) 0,058% + 0,12 nF* a 0,058% + 0,015 nF*
1 µF a <10 µF (100 Hz e 1 kHz) 0,058% + 0,00013 µF*
10 µF a < 100 µF (100 Hz e 1 kHz) 0,058% + 0,0015 µF*
100 µF a < 101 µF (100 Hz e 1 kHz) 0,058% + 0,015 µF*
101 µF a < 1 mF 0,022 %*
1 mF a <110 mF 141 µΩ/Ω a 153 µΩ/Ω*
Método de comparação com medidor RLC
Método de comparação com década padrão ou calibrador padrão
Método de comparação indireta com método DC
Método de comparação direta com calibrador padrão
Fonte de Corrente AC 10 µA até 200 µA (10 Hz até 1000 Hz) 29 µA/A*
> 0,2 mA até 2,2 A (10 Hz até 1000 Hz) 29 µA/A até 52 µA/A*